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Exafs spectroscopy : Techniques and applications / Edited by b. k. teo and d. c. joy

por Teo, Boon K [editor] | Joy, David C, 1943- [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, c1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC482.E8 E92.

Handbook of monochromatic XPS spectra / B. Vincent Crist

por Crist, B. Vincent [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Chichester : J. Wiley, c2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (3)Clasificación: QC482.S6 C75, ...

Handbook of X-Ray photoelectro spectroscopy : a reference book of standard data for use in X-Ray photoelectron spectroscopy / by C.D. Wagner ... [y otros.] ; G.E. Muilenberg, ed.

por Wagner, Charles Daniel, 1917- [colaborador] | Muilenberg, G. E [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Eden Prairie, Minnesota : Physical Electronics Division, Perkin-Elmer Corporation, c1979Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC793.5E627 H36.

Handbook of x-ray photoelectron spectroscopy : A reference book of standard spectra for identification and interpretation of xps data / By John f. moulder ... [y otros.] ; ed. by jill chastain

por Moulder, John F [editor] | Perkin-Elmer Corporation. Physical Electronics Division.

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Eden prairie, minnesota : Perkin-elmer corporation, physical electronics division, c1992Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD96.X2 H35.

High t [subindice] superconductors electronic structure proceedings of the international symposium on the electronic structure of high tc superconductors, rome, 5-7 october 1988 / Ed. by a. bianconi and a. marcelli

por International Symposium On The Electronic Structure Of High Tc Superconductors (1988 : Roma, Italia) | Marcelli, A [editor] | Bianconi, Antonio, 1944- [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Oxford : Pergamon Press, 1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC611.98H54 I57 1988.

A practical guide for the preparation of specimens for x-ray fluorescence and x-ray diffraction analysis / edited by Victor E. Buhrke, Ron Jenkins, Deane K. Smith

por Buhrke, Victor E [editor] | Jenkins, Ron, 1932- [editor] | Smith, Deane Kingsley [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Wiley-VCH, c1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QD96.X2 P73, ...

Quantitative x-ray spectrometry / Ron jenkins, r. w. gould, dale gedcke

por Jenkins, Ron, 1932- [autor] | Gould, Robert William [autor] | Gedcke, Dale, 1939- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : M. Dekker, c1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD96.X2 J45.

The solid state: X-ray spectroscopy.

por Jacob, L [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Wiley, 1974Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC176.8E4 J32.

Surface analysis by electron spectroscopy : Measurement and interpretation / Graham c. Smith

por Smith, Graham C [autor].

Series Updates in applied physics and electrical technologyTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : Plenum, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA418.7 S79.

Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS / D. Briggs

por Briggs, David J. (David John), 1948- [autor].

Series Cambridge solid state science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Cambridge University Press, 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD381.9S97 B75.

Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

por Birkholz, Mario [autor] | Fewster, Paul F [colaborador] | Genzel, Christoph [colaborador].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Weinheim : Wiley-VCH, c2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC176.83 B57.

X-Ray microanalysis in the electron microscope / John A. Chandler

por Chandler, John A [autor].

Series Practical methods in electron microscopy. Part II ; ; v. 5Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Amsterdam : North-holland, 1977Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD98.E4 C43.

X-ray photoelectron spectroscopy / edited by Thomas A. Carlson

por Carlson, Thomas A, 1928- [ed.].

Series Benchmark papers in physical chemistry and chemical physics ; 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Stroudsburg, Pennsylvania : Dowden, Hutchinson, & Ross, c1978Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC454.P48 C37.

X-ray spectrometry in electron beam instruments / ed. by David B. Williams, Joseph I. Goldstein, and Dale E. Newbury

por Williams, David Bernard, 1949- [editor] | Goldstein, Joseph, nacimiento 1939 [editor] | Newbury, Dale E [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, 1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC793.5E622 X73.

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